普析通用 XD2/3系列多晶衍射儀

XD2/3型多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品設計精密，硬件、軟件功能齊全，靈活適應各種物質微觀結構的測試、分析和研究，其技術水平已達到國內前列水平。產品采用了θ-θ測角儀立式、中空軸、射線管座與測角臺一體化的結構，可對粉末、大塊不規則固體、液體樣品進行測試。

• 結構新，采用*進的立式測角儀結構，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護的工作力度大為簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。

• 采用細分驅動電源技術，精度高，重現性達到0.0006°、測量重復性0.001°、最小步進角度0.0005°；

• 進口NaI閃爍晶體計數探測器，分辨率及長期使用穩定性好；

• X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好；采用了轉輪式快門，開關速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機柜外輻射劑量低于0.2μSv/h（國標規定要求低于2.5μSv/h）；

• X射線光源的數字控制電路作了進一步的改善，X光機的工作功率*由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠；

中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數據處理軟件包。在數據輸出多樣性方面作了重大改進。

配置名稱

XD2/3

X射線管

（Cu靶國產）

種類

Cu靶，NF型（其它靶材可選）

功率

2.0kW

焦點

1.0×10mm²

X射線發生器

最大輸出

4KW

X光管電壓

15~60kV，1kV /Step

X光管電流

6~80mA，1mA /Step

管電壓、管電流穩定度

≤0.01％（電源低壓浮動10％）

測角儀

測角儀結構

θs－2θd(XD2)  θs－θd(XD3)

測角儀掃描半徑

180mm

掃描角度范圍

-30~80°（θs）

-30～160°（θd）

工作方式

連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描

連續掃描速度

0.125～120°/min

最高轉速

120°/min

2θ角重復精度

≤0.0006°

最小步進角度

0.0005°

測量準確度

≤0.001°

發散狹縫（DS）

1/6°、1/2°、1°、2°

防散射狹縫(SS)

1/2°、1°、2°

接收狹縫(RS)

0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm

調整狹縫

0.02mm

檢測器

計數器

晶體類型

NaI

脈沖幅度分析器（HV/PHA）

輸出高壓0～1000V，穩定性≤0.01％（8h）

機柜

機柜尺寸（mm）

1200（長）×400（寬）×1850（高）

整機重量（kg）

500

觀察窗（mm）

600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃

X射線泄露量

≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）

安全措施

門聯鎖保護（門到位置，光閘才打開，產生X射線）

濾波器

Ni濾片

對應Cu靶

石墨彎晶單色器

反射效率η≥28％

綜合指標

整機綜合穩定度

≤0.3％